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光學(xué)厚度測量儀的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
更新時(shí)間：2024-11-09
型號(hào)：
廠商性質(zhì)：代理商
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FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進(jìn)行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。$nFR-InLine 膜厚儀并可以依據(jù)各種不同應(yīng)用設(shè)置多個(gè)參數(shù)的實(shí)時(shí)測量，例如：反射率和透射率光譜、厚度、色座標(biāo)。$nFR-InLine 膜厚儀測量軟件可以在標(biāo)準(zhǔn) Windws 10/11 中執(zhí)行。
更新時(shí)間：2024-12-18型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1560
顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：752
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：FR-Ultra廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1191
FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：FR-ES廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1272
顯示器薄膜測量儀*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件：分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此，在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
更新時(shí)間：2024-11-09型號(hào)：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1980